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V-Sorb 4804系列比表面积及孔径分析仪是金埃谱科技自主研发的比表面积及孔径分析仪器，采用静态容量法测量原理。多项技术的采用使产品整体性能更加完善，测试结果的准确性和一致性进一步提高，测试过程的稳定性更强，达到国际同类产品*水平。我们的产品设计更多从用户使用的角度出发，使V-Sorb 4804系列比表面积及孔隙度测试仪具备了*的自动化操作，操作界面人性化，简单易学；采用合资或进口零配件，大大提高了产品可靠性和使用寿命。产品整体设计上的完善和严格的产品制造和检测工序，确保产品更加符合用户实际需求，同时V-Sorb 4804系列比表面积及孔隙度测试仪的高性价比有效保障了用户的投资利益，灵活的产品配置可满足不同用户的不同需求。

• 测试功能：静态容量法，吸附及脱附等温线测定，BET法比表面积测定(单点及多点)，Langmuir法比表面积测定，BJH总孔体积及孔径分析，t-plot图法微孔分析，MP法微孔分析，HK法微孔分析，CO₂-冰水法微孔分析，t-plot图法外比表面积测定；样品真密度测定和平均粒径估算。
• 真空系统：集装式管路及电磁阀控制系统，大大减小管路死体积空间，提高检测吸附气体微量变化的灵敏度，从而提高孔径分析的分辨率；同时集装式管路减少了连接点，大大提高密封性和仪器使用寿命。
• 测试模式：集成“单一氮气测试模式”和“氮气+氦气标准测试模式”于一体，供客户根据实际需要选择使用；采用“氮气+氦气标准测试模式”，符合国际标准，可确保结果的准确性和一致性，且操作简单；对于低温下可吸附氦气的样品，不适宜采用氦气测定的死体积空间，可通过采用“单一氮气测试模式”获得理想的测试结果。
• 标定气体：具备使用He气和“氮气+空管”模式2种冷自由空间体积标定的功能。
• 测定范围：0.0005(m²/g)--至无上限（比表面积）；0.35nm-2nm(微孔)、2nm-500nm(中孔孔和大孔)；0.0001cc/g--至无上限(总孔体积)。
• 测量精度：比表面积重复精度≤± 1.0%，最可几孔径重复偏差≤0.01nm，真密度 ≤±0.04%；外表面积≤± 1.5%。
• 液位控制：V-Sorb的液氮面控制系统，确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变，*消除因死体积变化引入的测量误差。
• 数据采集：采用主流的数据采集存储系统和高精度及高集成度数据采集模块，误差小，抗力强。
• 样品数量：可以同时进行4个样品分析和4个样品脱气处理，样品测试系统和样品处理系统必需相互独立，并且样品测试和样品脱气处理必需可以同时进行，避免了测试管路受到污染，从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿命。
• 控制系统：采用可编程控制器电磁阀控制系统，高集成度和抗力，提高仪器稳定性和使用寿命。
• 压力测量：采用多支进口硅薄膜电容式压力传感器对压力进行分段的测量，显著提高低 P/Po点下测试精度，8支0-1000Torr (0-133Kpa)， 4支0-1Torr (0-0.133Kpa)，压力传感器必须提供进口检测证书。
• 压力精度：高精度进口硅薄膜电容式压力传感器，精度达实际读数的0.15％，优于全量程的0.15％，远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15％)。
• 真空泵：进口双极真空泵可以实现外置和内置仪器中二种放置方法，泵必须内置仪器中，可以通过软件根据实验需要自动控制真空泵启停，从而延长真空泵的寿命。
• 液氮杯：采用进口4升大容量不锈钢内胆杜瓦瓶，相比玻璃内胆杜瓦瓶优点为：经久耐用，不易破损，在无需增加保温盖的条件下可连续进行72小时测试，无需添加液氮，能孔径长时间测试需求。
• 分压范围：P/Po 准确可控范围达5x10^-6-0.998。
• 极限真空：4x10^-2Pa (3x10^-4Torr)；配分子泵可达5x10^-6Pa。
• 样品类型：粉末，颗粒，纤维及片状材料等。
• 测试气体：高纯N₂气或其它(按需选择如Ar，Kr)。
• 数据处理：Windows兼容数据处理软件，功能完善，操作简单，多种模式数据分析，图形化数据分析结果报表。
• 仪器规格：尺寸：长70×宽70×高85(CM)；重量：60公斤；电压：交流220V；电流：5A。

金埃谱科技可以提供样品测试服务，详情请联系销售部/9。

A.真空系统

• 的一体化集装式管路系统，采用进口集装管路，显著减少管路连接点，大大降低漏气率，提高极限真空度；
• 模块化结构设计，一体式集装管路，需人工进行连接的部件少，利于根据用户需求配置及后期升级与维护；
• 德国进口双级真空泵，噪音小运行稳定，防油返功能，极限真空度高，可达4x10^-2Pa (3x10^-4Torr)。

B.控制系统

• 采用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统，抗力强，稳定性大大提高，安装拆卸方便；
• 设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构，有效防止样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染。

C.提高测试精度措施

• 采用与同类进口产品相同品牌的高精度硅薄膜电容式压力传感器，压力测量精度为相应读数的0.15％，远远优于0.15％的全量程精度(FS)传感器；
• 采用8支0-1000Torr (0-133Kpa)， 4支0-1Torr (0-0.133Kpa)压力传感器，对测试范围内的压力采用分段测量，大大降低了低真空下的测量误差，0-1Torr的硅薄膜压力传感器精度远高于相同量程的皮拉尼电阻真空计(一般误差为10%-15％)；
• 的一体化集装式管路系统，进口集装管路显著减少管路连接点，大大减少死体积空间，有利于降低测量误差；
• 的步进式液氮面控制系统确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变，*消除因死体积变化引入的误差；
• 设计的抽气及进气控制系统，有效防止样品抽真空和进气过程中的飞溅，确保测试气路的清洁和样品质量无损失，保护高精度压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂移。

D.数据采集及处理

• 采用高精度及高集成度数据采集模块，连接方便，误差小，抗力；采用业界标准的485通讯模式，有利于设备扩展和互连，可方便转换为所需的RS232和USB通讯模式；
• 多种理论计算模型数据分析，为用户提供材料分析方案；强大的测试数据归档保存，查询系统，利于数据管理。

V-Sorb 4804P比表面积及孔径分布测试仪核心技术： 比表面积及孔径分布测试仪管路独立系统 | 比表面积及孔径分布测试仪的稳定性

1. 超微粉体，纳米材料，颗粒及纤维状材料比表面积、孔隙及孔径分布分析测定；
2. 粉体材料生产及应用企业生产现场产品质量监测；
3. 高校及研究型科研单位的材料研究及测试工作，吸附科学及BET(Brunauer-Emmett-Teller), BJH(Barrett-Joyner-Halenda)等众多理论教学实验；
4. 电池材料，催化剂，添加剂，吸附剂，陶瓷烧结材料，磁性材料，储能材料等相关性能测定；
5. 其它与材料表面性能相关的研究工作。