| 高精度冷镜式露点仪Michell冷镜露点仪总代理 该高精度的露点仪具有非常宽的量程和较小的体积，以及对湿气含量变化的灵敏度。 其他产品：微量氧分析仪,药品残氧仪,露点仪,热导气体分析仪,GE流量计,OX-1氧传感器,顶空分析仪,红外气体分析仪,高温湿度仪,西门子U23分析仪,ppb微量水分析仪,OXY.IQ氧分析仪,烟气湿度仪,燃气热值仪,Kaye温度验证仪,L&W白度,仪激光氧分析仪,压缩空气露点仪,干燥机露点仪,激光气体分析仪,便携式露点仪,便携式微量氧分析仪西门子氧电池\oxy-12\ultramat-23代表U23氧模块价格|PID传感器 总代理|代表处|办事处|价格
高精度冷镜式露点仪亮点 - 精度±0.1°C
- 测量**，*低可到-90°Cqd（100ppb），无需额外制冷模块
- 通过触摸屏可实现简便的设置和操作
- 传感器探头优化，保证在低湿环境下超快的响应时间
- 高灵敏度测量
- 目测镜，用于观测镜面上的冷凝物
- 坚固的19” x 4U外壳，可灵活安装
- 重量仅22.4kg，比市场同类产品轻一半以上
- Ethernet 或者 USB 连接
- SD 数据采集卡
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| 露点传感器参数 | | 测量精度* | ±0.1°C | | 重复性 | ±0.05°C | | 测量原理 | 冷镜 | | 测量范围 | 测量范围RS80: -80 ~ +20°Cdp (-112 ~ +68°Fdp)
RS90: -90 ~ +20°C dp (-130 ~ +68°Fdp) | | 镜面 | 500 ~ 1000 ml/min | | 样气压力 | 镀金铜 | | 外置 PRT | | 温度测量 | 4线Pt100, 1/10 DIN class B | | 样气流量 | 500 ~ 1000 ml/min (1 ~ 2.1 scfh) | | 样气压力 | *大1 MPa (10 barg) | | 高精度冷镜式露点仪外置PRT | | 温度测量 | 4线PT100, 1/10 DIN class B | | 测量精度 | ±0.1°C | | 电缆长度 | 2米 (*长250米) | | 流量传感器 | | 测量范围 | 0 ~ 1000ml/min | | 选配的内置式压力传感器 | | 测量范围 | 0 ~ 1.6 MPa (0 ~ 16 bara) | | 测量精度 | 满量程的0.25% | | 测量单位 | barg, psig, kPa, MPa | | 监控室 | | 分辨率 | 分辨率用户可选，*大分辨率0.001°C，和参数有关 | | 测量单位 | 湿度： °C dp或°F dp, % RH, g/m3, g/kg, ppmV, ppmW (SF6) 温度： °C或°F
压力： barg, psig, kPa, MPa | | 输出 | 模拟：三通道，可设置为4-20 mA, 0-20 mA或0-1 V数字：通过USB Modbus RTU和通过RS232或RS485 Modbus RTU可选，或通过 ethernet Modbus TCP
报警：两路电压释放触点，一路是过程报警，一路是
出错报警； 1 A @ 30 V DC | | HMI | 5.7” LCD 触摸屏 | | 数据采集 | S D 卡 (512Mb)和USB接口可通过
SD卡 (FAT-32) – *大支持32 Gb，可容纳2400万条
数据或 560天（以2秒一条计算） | | 环境条件 | 5 ~ 30°C，*高80% RH | | 供电 | 85 ~ 264 V AC, 47/63 Hz | | 功耗 | 250 VA | | 高精度冷镜式露点仪机械参数 | | 尺寸 | 190 x 445 x 550mm (里面7.48 x 17.51 x 21.65 ) (h x w x d) | | 重量 | 22.4kg (49.38lbs) | | 样气管路 | 316 不锈钢 | | 样气连接 | 入口 ： ¼” VCR(MALE)
出口： ¼” Swagelok (MALE) | | 可选的一体式取样泵 | 流量：*大1.4l/min
样气连接：带旁路回路1/4” Swagelok (MALE) | | 其他 | | 检验 | 5-点室内检验，标准配置溯源到英国国家标准，
UKAS ISO17025认证可选– 请咨询工厂 E氧分析仪|进口氧分析仪品牌|微量氧分析仪|价格|批发|厂家|Teledyne氧分析仪|AII氧分析仪|Southland氧分析仪|AMS氧分析仪|Ntron氧分析仪|恩特龙氧分析仪|AOI氧分析仪|ADV氧分析仪|AST氧传感器|仕富梅氧分析仪|Neutonics氧分析仪|HiTech氧分析仪|西门子氧分析仪|富士氧分析仪|Zirox氧分析仪 | | * 测量精度是指被测仪器与参考值之间的*大偏差。为此在测 试或者后续使用过程中，必须增加与校准系统和环境条件相关 的不确定因素。 | |
