显微熔点仪（数显）HCSGW X-4
产品简介
详细信息
| 详细说明： | 测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。 性能指标 熔点测量范围：室温至320℃ 测量重复性：±1℃（在<200℃时） 光学放大倍数：目镜10X；物境4X
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| 是否已审核： | 是 |
成都华诚仪器有限公司
经营地址：成都市金牛区洞子口路168号源上金府3栋1单元1703号
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