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FEI Inspect系列 扫描电子显微镜满足传统高分辨率样品研究所需的一切，简单易用的 InspectTM 专为满足研究各类材料以及表征材料结构和成分的主流需求而设计，配备高稳定分辨率平台，可满足大多数研究的需要。简单易用的界面可实现准确、快速的数据收集：将表面形貌和成分图像与快速元素分析结合，确定材料特性及其化学元素组成。在众多领域，高分辨率和高电流 FEG 扫描电镜的价值在于有助应对生成高品质图像和实施快速分析的挑战。
FEI Inspect系列 扫描电子显微镜是这些基础研究应用领域主流而灵活的解决方案。用户界面简单、易学且灵活，足以应对复杂环境内不同项目个别研究需求不同的挑战。例如，标准导航功能包括样品台移动双击控制和拖放变焦。SmartSCANTM技术采用针对困难样品的智能扫描策略，可减少噪声，提供的数据。该仪器系列的设计源于显微镜工作者，并用于显微镜工作者，是一款真正超越仅有“易用性”的产品。
许多可用的新功能有助定制 InspectTM系列使其可实现特定的表征。诸如射束减速等新功能可将传统 FEG 扫描电镜的低加速电压性能提升至全新的高度。Nav-Cam™ 彩色图像导航和新探测器令 具备更大的灵活性。更优质的数据、更大的灵活性、更高的效率，InspectTM 可实现快速简单的操作，迅速获知答案，实现投资价值。