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　LTE测试白卡|LTE NANO 测试白卡|Anritsu LTE测试卡
产品特点
★性能稳定，支持热插拔。
★测试，可探测SIM卡与手机之间任意管脚的开路及短路。
★优化了文件结构设计，将文件结构映射到RAM区域，大大提高了手机开机及入网速度
★多种封装可选，2FF/3FF(Micro)/4FF(Nano)
★支持 3GPP协议和MILENAGE
★可同时运行3G USIM应用、GSM SIM应用以及其他应用；
★ 扩展的名片册（号码薄），提供用户个人数据功能
★ I/O波特率可调（PPS支持）、时钟可调、支持时钟停止节电环保模式

功能：LTE制式USM卡。个性化信息定制:1)ICCID/IMSI/KEY/OPC等数据2）本/容量3）USIM卡内存大小：32K,64K,128K，256K4）定制文件内容/访问权等
 
符合规范：
ETSI TS 102 221: "Smart Cards; UICC-Terminal interface; Physical and logical characteristics"
ETSI TS 102 221: "Smart Cards;Card Application Toolkit (CAT)"
ETSITS131.111 (3GPP TS 31.111) USIM Application Toolkit(USAT)
UICC multi-application platform
New LTE data fields implemented
Three applicati: Test SIM, Test USIM, Test ISIM
Based on Java CardTM Open Platform technology
1.8V / 3V / 5V
128K EEPROM
APIN 1 disabled
GSM XOR/3G test algorithm
Creation of new data fields allowed
4FF card: the 4th Form Factor (4FF) - 40% smaller than the Mini-UICC format (3FF)