薄膜,金属箔片测厚仪
产品简介
薄膜,金属箔片测厚仪检测范围：0～2mm（常规）0～6mm；12mm（可选）
详细信息
济南思克测试技术有限公司：品牌【SYSTESTER】
型号：THI-1801测厚仪（又称薄膜机械接触式测厚仪,纸张测厚仪,芯片测厚仪等）
检测范围：0～2mm（常规）0～6mm；12mm（可选）
执行标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353
济南思克测试技术有限公司：品牌【SYSTESTER】
型号：THI-1801测厚仪（又称薄膜机械接触式测厚仪,纸张测厚仪,芯片测厚仪等）
检测范围：0～2mm（常规）0～6mm；12mm（可选）
执行标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353
薄膜,金属箔片测厚仪技术指标：
测量速度：25次/min（可调）
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
分 辨 率：0.1μm
测量范围：0～2mm（常规）0～6mm；12mm（可选）
薄膜,金属箔片测厚仪产品特点：
配置标准RS232通信口，利用专业计算机软件可zui大限度地挖掘试验数据价值
符合多种标准规定，标准接触面积、测量压力内嵌zui大值、zui小值、平均值、标准差等数据统计分析
量程可调（可根据要求定制）
