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　　根据国家市场监督管理总局下达的国家计量技术规范制修订计划，全国几何量长度计量技术委员会已完成《测长仪校准规范》的征求意见稿。为使国家计量技术规范能广泛适用和更具可操作性，现向全国有关单位及专家公开征求意见和建议。意见反馈邮箱mtc2@nim.ac.cn，ycdywxf@163.com，截止时间2024年5月20日前。
 

　　测长仪是用于测量量块、光滑极限量规、标准环规、螺纹量规等标准及零部件端度尺寸的几何量精密测量仪器，由于其操作相对便捷、准确度较高、配合数字化数据处理系统等特点，广泛应用于计量技术机构的量值传递和精密测量以及机械产品生产的各个质量检验环节。该类仪器早期均为光学机械式，随着光栅技术和数据处理方式的广泛应用，出现了数显测长仪，仪器的功能、计量特性出现了较大变化。在结构及原理上，测长仪采用了阿贝原理或光栅补偿或激光等技术方法，使其误差可控制在(±0.5～±2)μm，新型数显测长仪采用数据补偿后，其误差最高可达±0.10μm。
 

　　现行的JJF1189-2008《测长仪校准规范》，已颁布实施了十多年,在规范测长仪(含数显类)校准方法、保障量值溯源方面起到很大作用。近十多年来，数显测长仪的保有量剧增,本次修订将考虑到测长仪的多种结构型式，新增图例，新增细分示值误差和Z轴(垂向)示值误差等计量特性：因为在微小尺寸的比较测量中，数显测长仪的细分误差会影响测量结果，带来测量结果的偏离；部分测长仪为了满足螺纹环规的测量采用T形测头结构，T形测头在Z轴(垂向)的示值误差会影响中径测量值，也需要进行控制。并将修订原规范中的一些术语、对示值重复性校准方法、测量不确定度示例等内容进行修订。
 

　　JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF 1001—2011《通用计量术语及定义》、JJF 1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》共同构成支撑本校准规范制定的基础性系列规范。
 

　　JJF1189-xxxx《测长仪校准规范》是针对符合阿贝原则和示值误差采用软件修正的测长仪校准制定的计量技术规范。与JJF 1189-2008《测长仪校准规范》相比，除编辑性修改外主要技术变化如下：
 

　　——增加了引言；
 

　　——增加了细分误差的要求与校准方法；
 

　　——增加了Z(Y)轴示值误差的要求和校准方法；
 

　　——修改了测量重复性的校准方法；
 

　　——修改了“测长仪示值误差测量结果不确定度评定”。
 

　　按照《JJF 1071—2010国家计量校准规范编写规则》的要求制定测长仪校准规范。在内容与格式上保持一致，校准规范的具体内容有引言、范围、引用文献、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、校准结果的表达、复校时间间隔。
 

　　校准环境条件：
 

　　环境温度一般控制在(20±2)℃以内，或按照相关技术要求的规定。
 

　　主要标准器及配套设备：

　　校准结果：
 

　　经校准的测长仪发给校准证书。校准证书应给出各校准项目的测量结果及示值误差测量结果的扩展不确定度。
 

　　当用户要求时，可以根据用户提供的计量特性最大允许误差进行符合性判定，将结论列入校准证书。进行符合性判定应考虑测量结果的扩展不确定度。
 

　　复校时间间隔：
 

　　由于复校时间间隔的长短是由仪器的使用情况﹑使用者﹑仪器本身质量等诸因素所决定的，因此，送校单位可根据实际使用情况自主决定复校时间间隔，一般建议为1年。
 

　　本规范适用于光学机械式和数显式测长仪的校准。(更多内容详情请见附件)