金东霖_膜厚测试仪仪器性能：
1. 以更有效的过程控制来提高生产力。
2. 有助电镀过程中的生产成本zui小化、产量zui大化。
3. 快速无损地分析珠宝及其他合金。
4. 快速分析多达4层镀层。
5. 经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益。
6. 操作简单，只需要简单的培训。
7. 全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。
8. 超大开放式的样品台。

金东霖_膜厚测试仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定，它不同于EDX600B的下照式和封闭样品腔的设计，而是采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量。
特别为颇具挑战性的RoHS/ WEEE分析而研发。而且，它还十分适合于测量黄金及其他贵金属，分析金的成分重复性可达0,5 %.