我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作，快速和无损的分析。可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的14Si到92U。

MAXXI 6针对较薄而复杂的样品，具有的解决方案。MAXXI 6配备多准直器系统及超大样品舱，是功能性与检测精度兼备的理想工具。

亮点：

• 采用微聚焦X射线光管，实现高精度，高可靠性，测量时间短，购置成本低
• 采用高分辨率的硅漂移探测器(SDD),提供能量级别的效率，极低的检出限（LOD)
• 多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额，提高测量效率
• 开槽式超大样品舱设计，十分适合电路板或其他超大平板样品
• “USB接口 ”只需通过USB与计算机连接，无需额外的硬件或软件
• 德国制造，符合工程标准，坚固耐用的设计可实现长期可靠性
• 通过PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)认证，满足辐射安全标准
• 最多同时测定5层，15种元素及共存元素的校正
• 同时实现多于25种元素的定量分析
• 检测方法通过ISO3497，ASTM B568，DIN50987和IEC 62321等认证
• 对ROHS和贵金属进行工厂预装校准（可选）