日本Microphase 光谱椭偏仪 PHE

日本Microphase 光谱椭偏仪 PHE

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-11-01 13:47:17
83
产品属性
关闭
深圳市科时达电子科技有限公司

深圳市科时达电子科技有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

高精度光谱椭偏仪！可以精确测量折射指数、消光系数（n & K)，膜厚等，广泛适用于半导体、电介质、聚合物、金属等材料，单层薄膜和多层膜。客户包括US Army Research Lab，NASA，NIST，UC Berkeley，MIT，Harvard，Honeywell和Sharp Microelectronics等。

详细介绍

日本Microphase 光谱椭偏仪 PHE(图1)


上一篇：原子吸收光谱法在当前环境检测中的应用和不足 下一篇：原子吸收光谱法在当前环境检测中的应用和不足
提示

请选择您要拨打的电话：