USPM-RU III反射仪可*确测量当前分光仪无法测量的微小、薄样本的光谱反射率，不会与样本背面的反射光产生干涉。 是*适*测量曲面反射率、镀膜评价、微小部品的反射率测定系统。
测量ji⼩的⾯积
可以测量镜⽚的曲⾯，即使是样本表⾯上形成的⼩到Ø60 μm 或Ø30 μm 的细斑。这就提供了使⽤量⾓器检查镜头或其它光学组件的弯曲⾯的能⼒。

快速得出结果
使⽤平场光阑、线性传感器和⾼速分光光度测定法可以在数秒内完成快速、⾼再现性的测量。
采集到平场光阑的全部波长后数秒内完成测量。
减少了背⾯的⼲扰
⽆须代价⾼昂的步骤去防⽌背⾯反射即可实现表⾯反射率的*确测量。通过使⽤环形照明光的特殊光学元件来减少背⾯反射光，该特殊光学元件类似于共焦系统，能够阻挡所有离焦光反射。⽆l光学组件是球⾯、⾮球⾯，还是平⾯，USPM-RU III 都不需要样本进⾏防反射处理。

X-Y ⾊度图和L*A*B 测量
可以根据由分光反射率确定的光谱分光光度⽐⾊法测量物体的颜⾊。

便于使⽤的软件有助于⽤户得出通过/ 未通过结果
在反射系数和⾊度图⾥输⼊标准值，从⽽可以做出未通过/ 通过的决定。
主要测量因素：反射率，物体的颜⾊

主要应⽤
● 光学透镜、反射镜、棱镜、光学镀膜部品
● LED 反射器、MEMS 反射镜
技术参数