捷欧路JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜配备了JEOL自主研发的球差校正器，加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了高的STEM-HAADF像分辨率。采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证分辨率可达63pm（300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时）。ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研发的扩展轨道型12极球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器。标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。为了支持用户广泛的需求，研发了两种各具特点的物镜极靴。能安装超大立体角EDS（能谱仪）、EELS（电子能量损失谱仪）、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV?300kV，使用范围极广。新的排气系统达到了的真空度，在原子尺度的图像观察和分析中，限度地减轻了对样品的污染和损伤。整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度， 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上，把电气稳定性和对环境的抗力提高到新高度。

分辨率	300 kV，80 kV
物镜种类※1	UHR极靴	HR极靴
STEM分辨率（300kV） 使用STEM校正器	0.063nm	0.082nm
TEM分辨率（300 kV）	线分辨率0.05nm	线分辨率0.06nm
使用TEM校正器	非线性信息分辨极限0.06nm	非线性信息分辨极限0.08nm
	线性信息分辨极限0.09nm	线性信息分辨极限0.12nm