捷欧路JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

捷欧路JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

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具体成交价以合同协议为准
2023-02-23 09:41:15
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捷欧路JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜配备了JEOL自主研发的球差校正器,加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了高的STEM-HAADF像分辨率。采用JEOL自主研发的球差校正器,扫描透射像(STEM像)的保证分辨率可达63pm(300kV,超...

详细介绍

捷欧路JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜配备了JEOL自主研发的球差校正器,加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了高的STEM-HAADF像分辨率。采用JEOL自主研发的球差校正器,扫描透射像(STEM像)的保证分辨率可达63pm(300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时)。ETA校正器(Expanding trajectory aberration corrector)是JEOL研发的扩展轨道型12极球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器。标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。为了支持用户广泛的需求,研发了两种各具特点的物镜极靴。能安装超大立体角EDS(能谱仪)、EELS(电子能量损失谱仪)、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV?300kV,使用范围极广。新的排气系统达到了的真空度,在原子尺度的图像观察和分析中,限度地减轻了对样品的污染和损伤。整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度, 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上,把电气稳定性和对环境的抗力提高到新高度。


分辨率 300 kV,80 kV  
物镜种类※1 UHR极靴 HR极靴
STEM分辨率(300kV) 使用STEM校正器 0.063nm 0.082nm
TEM分辨率(300 kV) 线分辨率0.05nm 线分辨率0.06nm
使用TEM校正器 非线性信息分辨极限0.06nm 非线性信息分辨极限0.08nm
线性信息分辨极限0.09nm 线性信息分辨极限0.12nm

 


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