故障注入仿真软件FaultInjection Studio
故障注入攻击（FIA）通过注入故障（例如使用激光束破坏电路功能或增加工作频率或电源电压超出其规格）来从硬件系统中提取密钥。密钥的提取是通过分析FID（故障注入数据）的一组记录完成的，其中每个记录都包含输入，所应用的故障注入尝试以及可能正确或损坏的相应输出。 到目前为止，评估FIA漏洞的传统方法是在芯片流片后测量芯片或设备参数-这是一个昂贵且耗时的过程。我们提供的芯片设计阶段仿真和分析解决方案FaultInjection Studio，可让您在设计阶段识别FIA漏洞。您可以潜在地节省在流片，掩膜和晶圆厂成本方面至少数百万元和数月的产品开发时间。
FaultInjection Studio是一个软件工具，可通过模拟故障注入攻击，使用标准设计数据格式作为输入并分析模拟结果来检查设备设计对FIA的鲁棒性。
FaultInjection Studio由以下两部分组成：
1，FIA仿真引擎FAST IQ：它是故障攻击测试和模拟器
2，FIA数据分析仪FIRE IQ ：它是故障注入结果评估器
对于FaultInjection Studio支持的每种FIA类型，都有一对攻击插件，其中一个链接到FAST IQ，另一个链接到FIRE IQ，并提供清晰的说明文档，逐步引导用户完成创建文本文件的过程。将插件所引用的抽象故障注入目标映射到特定于您的网表的门和时钟周期。
FaultInjection Studio包括用于以下攻击的插件：
1，攻击插件库（APL），包含差分故障攻击（DFA），统计无效故障攻击（SIFA），轻度统计无效故障攻击和逐写读取攻击。
2，FaultInjection Studio还具有可扩展的插件体系结构，该体系结构允许用户为FAST IQ和FIRE IQ创建和使用自己的自定义插件。此外，我们的插件库的
APL会不断更新并发布给相关客户。 FIRE IQ自动从FID中提取加密密钥-由FAST IQ输出或从真实芯片上的故障攻击中捕获。FIRE IQ完成的FIA分析结果将作为密钥的值提供，并提供有关如何
提取密钥的报告。
FaultInjection Studio是一种高效且灵活的解决方案，用于芯片设计阶段的FIA分析以及从真实芯片上获取的故障数据的分析能力。它的易用性和可扩展性使
其非常适合希望定制其FIA分析环境的新用户和专家用户。
相比于传统的故障注入分析设备，FaultInjection Studio具有如下三大优势：
1，与使用测试设备对待测芯片或设备本身执行FIA分析以及潜在地重新设计以消除FIA漏洞相比，在芯片设计阶段使用FaultInjection Studio更快，更便宜。
2，使用FaultInjection Studio进行芯片设计阶段的FIA仿真和分析可提供一个可控环境，以识别FIA漏洞，同时不会产生物理测量时所引入的噪声和校准效应。
3，FaultInjection Studio也可以用于真实芯片的FIA分析，因为它支持输入由测试设备捕获的数据。FaultInjection Studio的可扩展插件体系结构可轻松扩展FAST IQ
和FIRE IQ功能，以实现新的加密算法和故障注入攻击。
