芯片安全测试分析平台Analyzr    

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       芯片安全测试分析平台Analyzr是一整套针对智能IC卡，芯片，终端产品，模组以及车规级产品等进行安全性分析与评估的测试平台，平台允许用户在自有系统上执行安全性分析与评估，以充分了解用户产品设计是否满足安全性以及安全标准的要求，芯片安全测试分析平台Analyzr满足多种国际测试标准，支持ISO/IEC, CC，FIPS-140等多种安全规范，满足安全规范的一致性测试要求。



主要功能：

     1，支持侧信道分析（Side Channel Analysis, SCA）
支持侧信道分析与旁路攻击等业界主流的被动攻击：电磁能量攻击（Electromagnetic SCA）,电流功耗分析（Current Consumption）,电压功耗分析（Power Consumption）,支持AES-128,AES-256,DES,3-DES,RSA,ECC等标准密码算法，支持MIA,DPA,CPA,SPA,TA,MA,DEMA,LRA,NICV等多种攻击，支持国密标准算法SM2,SM4。


     2，支持故障注入（Fault Injection）
支持故障注入等业界主流主动攻击方式：电磁故障注入（Electromagnetic Fault Injection）,激光故障注入（Laser Fault Injection）,电压毛刺（Power Glitch）以及时钟毛刺（Clock Glitch）等。提供DFA差分分析方法，配合3D自动化扫描软件，可精准定位芯片表面敏感信号点，实现精准注入。




产品优势：

     - 内置Smart-Trigger 高级智能触发系统
Smart-Trigger高级智能触发系统支持快速数据采样率，并自带预处理功能，帮助用户更快速的找到信号触发点，实现精准触发管理，同时管理侧信道以及故障注入平台中不同设备之间的同步，协同触发以及复杂信号的快速处理，如智能卡时序分析，操作系统同步管理，高频信号噪声测量与管理等等。

     - 支持Pre-Processing预处理功能
软件内置多个预处理模块，帮助用户预先分析及处理轨迹信号，实现轨迹信号的频率调制，高通/带通/低通滤波，以及傅里叶变换等多种处理方式，极大提高了分析软件快速定位敏感信息的速度，同时基于机器学习，深度学习算法对轨迹信号进行优化及智能区分。

     - 集成NICV度量技术
NICV泄漏度量是Secure-IC发表的泄漏分析技术，并有相关论文发表。帮助客户迅速检测泄露点，快速评估攻击策略，是客户在进行泄露模型leakages分析时的理想工具。同时提供与该算法匹配的泄露模型，以及分析策略，通过Secure-IC的分析软件对采集的轨迹信号进行统计分析，最终以图形化方式将最终分析结果呈现给用户。

     - 3D图形化及自动化分析
以3D图形化方式显示故障注入数据，便于用户观察，同时3D制图工具也可以自动化扫描芯片表面，自动寻找芯片敏感位置，协助用户实现故障信号自动注入，对于不了解待测芯片的测试人员来说，3D图形化制图工具的自动化扫描加速了测试人员的测试速度，并提供更高的测试精度，满足黑盒测试需求。

     - 精确的Fault Exploitation故障分析器
故障分析器可自动分析故障注入结果，采用DFA差分分析方法，提供best key, hypothesis以及RANK分析曲线显示功能，以及定位故障注入在算法中的哪个位置。

     - 满足各类TOE测试的全功能平台
Analyzr平台满足目前各类消费电子产品以及车规产品的安全性测试需求，支持手机安全性测试，支持安卓手机MCU,SIM卡等安全性测试和评估，支持车规级产品如车载电子产品以及汽车ECU等安全性测试，满足汽车行业安全测试规范SHE,EVITA,以及PRESERVE等测试要求。

     - 行业内灵活的二次开发软件平台
Analyzr平台是开放的开发环境，满足客户的二次开发需求，客户可以基于平台框架开发自己的私有密码算法，以及各类分析策略,评估方法以及泄漏模型，包括但不限于私有加密算法，标准化加密算法，产品接口集成，泄漏模型，分析策略等等，支持C,C++,Java,Python等多种开发语言，同时我们也会在客户开发过程中提供技术支持，以便于客户更好的完成自有模块的开发。



设备展示：

电磁故障注入平台





电磁故障注入-信号注入




电磁能量攻击平台



激光故障注入-激光工作台





激光故障注入-激光注入（待测物为ARM芯片，芯片表面已经过decap开盖处理）





电压毛刺平台