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规格 - XP2U超微量天平 XP系列高精度电子天平
| 极限值 | XP2U |
| zui大称量值 | 2.1 g |
| 可读性 | 0.0001 mg |
| 重复性（sd） - 加载处 | 0.00025 mg |
| - 低加载（加载处） | 0.0002 mg （0.2 g） |
| 线性误差 | 0.001 mg |
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| 灵敏度漂移 | 1.5 x 10-5 |
| 灵敏度温度漂移 2） | 0.0001 %/°C |
| 灵敏度稳定性 3） | 0.0001 %/a |
| 典型值 4） | |
| 典型重复性（sd） | 0.00015 mg+2.5 x （10–8）· R_gr |
| 典型微分非线性（sd） | √8x（10-14） · g · R_nt |
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| 典型灵敏度偏移（sd）2） | 3x（10-6）· R_nt |
| 典型zui小称量值*（符合USP） | 0.45 mg+7.5 x （10–5） · R_gr |
| 典型zui小称量值* （@ U=1 %, 2 sd） | 0.03 mg+5 x （10–6） · R_gr |
| 典型稳定时间 | < 10 s |
1） 根据OIML R76
2） 在10到30°C的温度范围内
3） *次安装，使用proFACT校准，灵敏度稳定性
4） 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重（样品质量） a=年
* 重复性和zui小称量值可以通过以下措施得以改进：- 选择适当的称量参数设置，- 选择合适的天平放置位置，- 使用较小的去皮容器。
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