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面议| zui小显示值:0.1mg | zui大称量:520（g） |
| 加工定制:否 | 类型:差热天平仪器 |
| zui小称量:0.1（mg） | 规格:520g/0.1mg |
| 适用范围:实验室 | zui小显示值:0.1mg |
| zui大称量:520（g） | 加工定制:否 |
| 类型:差热天平仪器 | zui小称量:0.1（mg） |
| 规格:520g/0.1mg | 适用范围:实验室 |
梅特勒电子分析天平
规格 - XP504 分析天平
zui大称量范围 | 520 g |
可读性 | 0.1 mg |
线性 | 0.4 mg |
重复性 | 0.1 - 0.12 mg |
灵敏度（温度取样泵漂移） | 1 x 10^-6/°C •Rnt |
秤盘尺寸 | 78 x 73 mm |
去皮范围 | 0...520 g |
灵敏度精度 | 3.0 x 10^-6 •Rnt |
灵敏度稳定性 | 1 x 10^-6/a •Rnt |
稳定时间 | 1.6 s |
防风罩可用高度 | 235 mm |
外部砝码校准 | 用户砝码 |
内部砝码校准 | ProFACT专业全自动校准技术专业级全自动校准技术, 温度漂移和时间触发的全自动内校 |
尺寸 | 263x487x322 mm （DxH） |
接口 | RS-232C |
Minimum weigh （typical acc. USP） | 120 mg |
Minimum weigh （typical, U=1%, sd=2） | 8 mg |
Sensitivity offset | 3x10-6·Rnt |