二手膜厚测试仪利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术*地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份，测量厚度可以从埃（?）至微米（um），它也能测量多至20个元素的块状合金成份。此仪器结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器，BA 100 是您正确的选择。

二手膜厚测试仪软件包括 ：
（1）X射线部件的操作 
（2）控制整个测量过程 
（3）*的基本参数法可进行无标准片测量 
（4）用受认证的标准片进行校准，可以完成有标准片调校的测量 
（5）可以同时分析材料成分和测量计算镀层厚度 
（6）按照元素波峰进行自动元素识别 
（7）测量值可以以karat, wt% 或 ‰表示 
（8）客户自定义报表工具