二手膜厚测试仪—租赁、校正利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术*地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份，测量厚度可以从埃（?）至微米（um），它也能测量多至20个元素的块状合金成份。此仪器结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器，BA 100 是您正确的选择。

二手膜厚测试仪—租赁、校正可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等.
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金.
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金.
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等.
双镀层：其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。