X射线膜厚仪——bowman利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术*地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份，测量厚度可以从埃（?）至微米（um），它也能测量多至20个元素的块状合金成份。此仪器结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器，BA 100 是您正确的选择。

X射线膜厚仪——bowman技术指标：
★ 元素分析范围：从AL到U
★ 一次性可同时分析多层镀层
★ 分析厚度检测出限zui高达0.01um
★ 同时可分析多达5层以上镀层
★ 相互独立的基体效应校正模型，厚度分析方法
★ 多次测量重复性zui高可达0.01um
★ *工作稳定性小于0.1um（5um左右单镀层样品）
★ 温度适应范围：15℃~30℃
★ 输出电压220±5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源）