X射线膜厚仪——金东霖利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术*地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份，测量厚度可以从埃（?）至微米（um），它也能测量多至20个元素的块状合金成份。此仪器结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器，BA 100 是您正确的选择。

X射线膜厚仪——金东霖规格描述：
1 X射线激发系统：垂直上照式X射线光学系统。
2 快速、精确的分析：大面积正比计数探测器和博曼仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供*灵敏度
3 准直器程控交换系统：可同时装配4种规格的准直器。
4 的*稳定性：自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果 
5 例行进行简单快速的波谱校准：可自动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正，坚固的工业设计，可在实验室或生产线上操作。 
6 简单的元素区分：通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱，性能优化
7 可分析的元素范围大：预置800多种容易选择的应用参数/方法
8 测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用，基本分析功能采用基本参数法校正。
9 样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)