金东霖——x-ray膜厚仪利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术*地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份，测量厚度可以从埃（?）至微米（um），它也能测量多至20个元素的块状合金成份。此仪器结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器，BA 100 是您正确的选择。

金东霖——x-ray膜厚仪性能特点
+ 高效超薄窗X光管，指标达到*水平。 
+ 的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好。
+ SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。 
+ 产品—信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上。 
+ 低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好。 
+ 智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围。 
+ 自动稳谱装置保证了仪器工作的*性。
+ 高信噪比的电子线路单元。 
+ 针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐。 
+ 解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度。
+ 多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制。
+ 内置高清晰摄像头。 
+ 液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然。