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金东霖——x-ray膜厚仪利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术*地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份,测量厚度可以从埃(?)至微米(um),它也能测量多至20个元素的块状合金成份。此仪器结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器,BA 100 是您正确的选择。
金东霖——x-ray膜厚仪性能特点
+ 高效超薄窗X光管,指标达到*水平。
+ 的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好。
+ SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比。
+ 产品—信噪比增强器(SNE),提高信号处理能力25倍以上。
+ 低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好。
+ 智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围。
+ 自动稳谱装置保证了仪器工作的*性。
+ 高信噪比的电子线路单元。
+ 针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐。
+ 解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度。
+ 多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制。
+ 内置高清晰摄像头。
+ 液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然。