1、主要功能及应用范围：

FEI TECNAI G2 F20仪器配备了STEM, EDX, CCD, HAADF等多种附件，能获取TEM明场、暗场像高分辨像和选区电子衍射，能进行EDX能谱分析和高分辨STEM原子序数像的分析，STEM结合EDX点、线、面扫描的可以进行微区能谱分析，利用三维重构软件进行样品的三维重构和分析。

该仪器可完成材料组织形态、晶体结构、化学成分、界面结构,表面和缺陷等方面的测试与分析，可广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学， 金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域的科研和教学。

2、主要规格及技术指标：

加速电压：200KV

放大倍数：25K-1030K

点分辨率：0.24nm

线分辨率：0.102nm

信息分辨率：0.14nm

样品倾斜角度:< ±30°

相机常数: 30-4500 mm；

电子枪：肖特基热场发射电子枪

球差系数Cs/色差系数Cc：1.2mm/1.2mm