品牌
其他厂商性质
国外所在地
AF?微米级深度高度测量仪AFM-30
面议AF?微米级深度高度测量仪光聚焦追踪的新型深度高度 测量机
面议AF?微米级深度高度测量仪手动测量
面议AF?微米级深度高度测量仪Z轴驱动装置的功能
面议日本AF?微米级深度高度测量仪AFM-30
面议日本AF?微米级深度高度测量仪光聚焦追踪的新型深度高度 测量机
面议日本AF?微米级深度高度测量仪手动测量
面议简易型微量金属污染物质回收装置SC系列SC-3100
面议日本AF?微米级深度高度测量仪Z轴驱动装置的功能
面议电化学测量系统 HZ-7000系列HZ-7000
面议DI式纱线摩擦抱合力试验机DI-200
面议划痕测试仪负荷增加型
面议与电脑连接,制作多样化的回收图案,从硅芯片的表面和侧面(斜面部)回收(取样)微量金属污染。
●由于不需要太多的外部资源,也不占用任何空间,因此设备的部署非常简单。
●由于是机械作业,因此不需要操作人员熟练,任何人都可以轻松取样。
●由于装置侧自动实施采样用药液的供给和保持具的移动,因此与SC-2000相比,可减少作业人员造成的污染。
●由于不需要太多的外部资源,也不占用任何空间,因此设备的部署非常简单。
●由于是机械作业,因此不需要操作人员熟练,任何人都可以轻松取样。