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AF?微米级深度高度测量仪AFM-30
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AF?微米级深度高度测量仪光聚焦追踪的新型深度高度 测量机
面议AF?微米级深度高度测量仪手动测量
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AF?微米级深度高度测量仪Z轴驱动装置的功能
面议日本AF?微米级深度高度测量仪AFM-30
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日本AF?微米级深度高度测量仪光聚焦追踪的新型深度高度 测量机
面议日本AF?微米级深度高度测量仪手动测量
面议简易型微量金属污染物质回收装置SC系列SC-3100
面议日本AF?微米级深度高度测量仪Z轴驱动装置的功能
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电化学测量系统 HZ-7000系列HZ－7000
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DI式纱线摩擦抱合力试验机DI－200
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划痕测试仪负荷增加型
面议与电脑连接，制作多样化的回收图案，从硅芯片的表面和侧面（斜面部）回收（取样）微量金属污染。
●由于不需要太多的外部资源，也不占用任何空间，因此设备的部署非常简单。
●由于是机械作业，因此不需要操作人员熟练，任何人都可以轻松取样。
●由于装置侧自动实施采样用药液的供给和保持具的移动，因此与SC-2000相比，可减少作业人员造成的污染。
●由于不需要太多的外部资源，也不占用任何空间，因此设备的部署非常简单。
●由于是机械作业，因此不需要操作人员熟练，任何人都可以轻松取样。
